仪器性能：主要用来扫描测量岩土体材料的几何形状与外观数据，构建试样的几何表面模型。
主要参数：单面扫描范围：400×300 /200×150 mm2单面测量精度：0.03 / 0.02 mm传感器参数：144万×2 传感器类型：高精度工业CCD 平均采样点距：0.25 / 0.14 mm单面扫描速度：小于10秒 扫描方式：非接触 拼接方式：标志点全自动拼接
